Чжан И: Углово-разрешённое фотоэлектронное спектроскопическое исследование эффекта конечного размера и эффекта легирования в тонких плёнках топологического изолятора Bi₂Se₃ / 拓扑绝缘体Bi2Se3薄膜的有限尺寸效应和掺杂效应的角分辨光电子能谱研究
2 629 сом
✓ В наличии (1 шт.)
Артикул: 145333047
